Anzeige
Anzeige
parts2clean, 23. - 25. Oktober 2018

Analytik

Produktbeschreibung

Analytik von Grenzflächen, Mikrostrukturen und Werkstoffen

Präparation komplexer Proben und Grenzflächen; alle gängigen Verfahren der Material-, Oberflächen- und Mikrostrukturanalyse (REM, TEM, FIB, EDX, SNMS, XPS, FTIR, GC-MS).

Auf der Merkliste

0

Das Merken ist fehlgeschlagen, da ein Problem mit der Verbindung zum Server aufgetreten ist.