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parts2clean, 23. - 25. Oktober 2018
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REM Partikelstempel

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Produktbeschreibung

Der REM Partikelstempel wurde für die Analyse mit dem Rasterelektronenmikroskop (REM) entwickelt.
Der REM Partikelstempel eignet sich aufgrund seiner Materialgrundstrukturen, Partikel mit Partikelgröße > 25 µm zu analysieren. Eine Analyse von rein metallische Partikel ist ab einer Partikelgröße von 5 µm möglich. Partikel bleiben lageorientiert fixiert. Der Objekthalter kann gekippt oder gedreht werden für unterschiedliche Perspektiven des Partikels.

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